D08300 - SEMI D83 - Test Method for Warm-Up Properties of Display Picture Quality Revision:SEMI D83-0223 - Current 一貫した状態モデルを応用して装置でSEMI E10データ収集を自動的に行うことによって装置サプライヤと装置ユーザの双方が利益を得る。

一貫した状態モデルを応用して装置でSEMI E10データ収集を自動的に行うことによって装置サプライヤと装置ユーザの双方が利益を得る。

注意：　「注」の表題のついた段落は，本安全ガイドラインの公式な一部ではなく，また安全ガイドライン本文の内容の変更や書き換えを意図したものではない。安全ガイドラインの利用を促進するために委員会が提供したものである。

Clear and commonly accepted definitions are needed for efficient communication and to prevent misunderstanding between buyers and vendors of metrology equipment and manufacturing services

1  This Guide provides the tools to describe wafer stacks in a 3DS-IC process

For evaluation of an epilayer

D08300 - SEMI D83 - Test Method for Warm-Up Properties of Display Picture Quality Revision:SEMI D83-0223 - Current 一貫した状態モデルを応用して装置でSEMI E10データ収集を自動的に行うことによって装置サプライヤと装置ユーザの双方が利益を得る。It is very important to measure and evaluate the warm up properties of picture quality components that viewer can experience as well as the luminance factor. This Standard specifies measurement conditions and methods for measuring the warm up properties of picture quality components in display devices. It contains five optical components of picture quality such as luminance, contrast, gamma, color temperature, and chromaticity value of primary colors.